研究背景

目前的螢光成像主要集中在可見光（400-650 nm）和第一近紅外光窗口（NIR-I，700-900 nm），然而這些區域內的光存在著較大的光散射和組織的自體螢光現象，會對成像品質產生影響。不過隨著時間的推移，以第二近紅外窗口（NIR-II，1000-1700 nm）的螢光成像技術也開始迅速地發展。NIR-II 螢光成像具有低光散射損耗和高穿透組織深度以及高成像解析度和高訊噪比等優點，在生物分析和醫學診斷領域展示出廣闊的應用前景。
 

量子點是直徑2.0~10.0 nm的半導體納米晶體，與傳統有機螢光染料相比，具有PLQY高、抗光漂白強、發射光譜集中和可調性強等優點，是一種優異的螢光材料。因此，量子點成了廣泛研究的 NIR-II 螢光材料。為使科研單位可進行納米材料的螢光光譜分析研究，我們如海設計開發了一套980近紅外二區螢光測量系統。該系統重現性好，測量速度快，具有良好的採集效率和可靠性，可廣泛應用於通訊、化工生物醫療、材料分析等領域。





 

測試樣品及試驗器搭建

1)測試樣品

不同濃度SbS量子點樣品，SbS原液、20% SbS原液、5% SbS原液

2)儀器搭建


 

實驗結果

測試參數：雷射功率：500mw 積分時間：100ms

圖1 不同濃度SbS量子點發射光譜

結論

980近紅外二區螢光測量系統能夠快速、有效對SbS量子點樣品進行發射光譜檢測，實驗檢測出SbS量子點發射訊號在1300-1700nm，且檢測靈敏度較高。

 

設備推薦
980近紅外二區螢光測量系統

產品特點

• 螢光光譜範圍：1000-1700nm
• 高穩定性
• 高靈敏度，相較於傳統90°螢光測量方式，檢測靈敏度提高100倍

規格參數