ARS2000多角度光譜量測系統（Angle-Resolved Spectrometer）是一款可變角度透射／反射光纖光譜儀，適用於實驗室及現場光學量測，可進行不同入射角與接收角下的透射率、反射率、吸收及輻射光譜分析。

本系統特別適用於光子晶體、超導材料及奈米光學材料等研究，可透過量測材料在不同角度下的反射率、透射率及吸收光譜，分析晶體能帶結構、材料缺陷及其他角度相關光學特性。此外，亦廣泛應用於薄膜材料、玻璃及光學元件的透射率與反射率量測，可作為製程控制及品質檢測的重要工具。搭配手動式透射／反射量測平台，可提供0°～180°入射角與0°～360°接收角的量測能力，支援200–1100 nm波段的透射、反射及輻射光譜量測。

系統內建ARM嵌入式控制平台及Uspectral Plus軟體，可直接於設備上完成即時量測，同時提供Windows光譜分析軟體，方便使用者進行光譜分析、資料管理及結果匯出。

• 產品特點

• 專業量測：支援透射、反射、散射及輻射光譜分析，適用於角度解析光學量測。
• 操作便利：體積輕巧、性能穩定、容易維護，適合實驗室及現場使用。
• 完整軟體：搭配Uspectral Plus專業光譜分析軟體，可進行量測、分析及資料管理。
• USB 資料儲存：支援USB介面，可快速儲存及匯出量測資料。

 

• 規格參數

  型號	ARS2000
  光譜範圍	200–1100 nm
  光纖配置	600 μm UV-VIS光纖
  光源	20W鎢鹵素燈
  光纖介面	SMA905
  入射角度	0°–180°
  接收角度	0°–360°
  角度解析度	0.003°
  樣品台	XY ±6.5 cm
  光斑直徑	10 cm
  電源	AC 220 V

  註: 光譜波段可依使用需求提供客製化配置。

 

 

• 尺寸圖