XS13256是一款採用背照式致冷(TE-Cooled Back-thinned) CCD的光纖光譜儀，光譜範圍可配置，具有高解析度(最佳可達0.1nm)及低雜散光(~5‰)等特性。同時，良好的光譜回應穩定性和重現性，使得光譜儀可以達到工業現場長時間檢測可靠性之要求。XS13256是一款適用於雷射測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等多個工業現場測量的高性能光纖光譜儀。
-
產品特點
- 解析度高，最佳可達0.07nm
- TE-Cooled CCD，致冷溫度可以根據配置選擇10℃或者-5℃，具備低雜訊和良好的穩定性
- Key-SMA905設計，光纖插拔強度一致性≤7%
- CCD量化背景雜訊≤10RMS（10ms積分時間）。
- 配置USB、序列多種通訊介面，配置24PIN交互介面、專有DAC和ADC，可實現配套光源的使能、強度控制和功率回饋
-
規格參數
| 光學參數 | |
| 光纖介面 | Key-SMA905 |
| 狹縫 | 10μm、20μm、25μm、50μm、100μm、200μm (可根據客戶需求定製) |
| 檢測器 | TE Cooled背照式CCD |
| 像素1 | 2048 pixels |
| 雜散光 | ~5‰ |
| 光纖插拔一致性 | ≤7% |
| 功能參數 | |
| AD採樣 | 16bit |
| 資料介面 | USB2.0、RS232 |
| 擴展功能介面 | 24PIN |
| 採集模式 | 單次、連續、軟體觸發、同步外觸發、非同步重定外觸發 |
| 檢測器積分時間 | 8ms-300S（Max） |
| CCD讀出雜訊2 | ≤10 |
| 動態範圍3 | 8000:1 |
| 滿訊號動態範圍4 | 15000:1 |
| 訊噪比 | 800:1 |
| 回應線性度5 | ≥98% |
| 其他參數 | |
| Part No. | TEC2000 |
| 重量 | 1.12kg |
| 尺寸 | 182×109×56mm |
| 工作溫度 | 0℃~40℃ |
| 工作濕度 | 20%-85% |
|
1. CCD像素可以選擇2048×1 或者2048×64像素 3. 動態範圍為2ms積分時間情況 飽和值/CCD 讀出雜訊的均方根，評價方法參照如海標準 5. 回應非線性度為校準之前 |
|
-
產品配置
|
產品規格
|
像素數
|
致冷溫度
|
光譜範圍
|
光譜解析度
|
||
|
Pixels
|
℃
|
起始波長
|
截止波長
|
10um
|
25um
|
|
|
XS13256-200-1020
|
2048
|
10
|
200
|
1020
|
-
|
1.50
|
|
XS13256-535-650
|
2048
|
10
|
535
|
650
|
-
|
0.30
|
|
XS13256-795-1050
|
2048
|
10
|
795
|
1050
|
-
|
0.50
|
|
XS13256-200-1020
|
2048
|
-5
|
200
|
1020
|
-
|
1.50
|
|
XS13256-535-650
|
2048
|
10
|
535
|
650
|
-
|
0.30
|
|
XS13256-795-1050
|
2048
|
10
|
795
|
1050
|
-
|
0.50
|
-
尺寸圖
-
CCD 光譜回應效率圖
-
典型光譜
10ms積分時間下的典型暗光譜
暗雜訊 VS 積分時間
10ms積分時間訊噪比(有源)
動態範圍
氣體標準光源光譜(200-1000nm)
氘鹵燈光譜(200-1000nm)
暗雜訊 VS 積分時間
10ms積分時間訊噪比(有源)
動態範圍
氣體標準光源光譜(200-1000nm)
氘鹵燈光譜(200-1000nm)