XS11071是一款以CT光路設計的長焦距背照式光纖光譜儀，結構設計小巧，靈敏度高，光譜範圍在200-1100nm範圍內可依需求配置。具有高解析度、低雜散光、訊噪比好、動態範圍寬等優點。主要應用於雷射測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等多個工業現場測量，是一款高CP值的科研級光纖光譜儀。
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產品特點
- Key-SMA905設計，可適配如海帶定位銷多芯密排集束光纖，光纖插拔強度一致性≤7%
- 配置紫外增強背照式面陣CCD檢測器(Hamamatsu)，紫外光譜回應強，訊噪比高
- CCD量化背景雜訊≤10RMS (10ms積分時間)
- 配置USB、序列多種通訊介面、24PIN交互介面、專有DAC和ADC，可實現配套光源的使能、強度控制和功率回饋
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規格參數
| 光學參數 | |
| 光纖介面 | Key-SMA905 |
| 狹縫 | 10μm、20μm、25μm、50μm、100μm、200μm (可根據客戶需求定製) |
| 檢測器 | Back-thinned CCD |
| 像素 | 2048×64 pixels |
| 雜散光 | ~0.5% |
| 光纖插拔一致性 | ≤7% |
| 功能參數 | |
| AD採樣 | 16bit |
| 資料介面 | USB2.0、RS232 |
| 擴展功能介面 | 24PIN |
| 採集模式 | 單次、連續、軟體觸發、同步外觸發、非同步重定外觸發 |
| 檢測器積分時間 | 8ms-65S |
| CCD讀出雜訊1 | ≤10 |
| CCD 動態範圍2 | 5000:1 |
| 訊噪比 | 550:1 |
| 回應線性度3 | ≥98% |
| 其他參數 | |
| Part No. | Area |
| 重量 | 約1kg |
| 尺寸 | 164×109×56.5mm |
| 工作溫度 | 0℃~40℃ |
| 工作濕度 | 20%-85% |
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1. 積分時間10ms，CCD 讀出雜訊的均方根 2. CCD動態範圍為2ms積分時間情況 飽和值/CCD 讀出雜訊的均方根 3. 回應非線性度為校準之前 |
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產品配置
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產品規格
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像素數
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光譜範圍
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光譜解析度
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Pixels
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起始波長
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截止波長
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10um
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25um
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XS11071-200-1050
|
2048
|
200
|
1050
|
-
|
1.00
|
|||
|
XS11071-535-630
|
2048
|
535
|
630
|
-
|
0.15
|
|||
|
XS11071-795-1050
|
2048
|
795
|
1050
|
-
|
0.50
|
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|
XS11071-360-800
|
2048
|
360
|
800
|
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|
0.80
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8 以上為部分量產產品規格，可根據客戶需求配置波長範圍和解析度
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尺寸圖
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CCD光譜回應效率圖
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典型光譜
10ms積分時間下的典型暗光譜
暗雜訊VS 積分時間
10ms積分時間訊噪比 (有源)
動態範圍
光譜譜線燈光譜 (200-900nm)
氘鹵燈光譜 (200-900nm)
