TEC2000是一款制冷型、背照式微型光纖光譜儀，結構設計緊湊，光譜範圍可靈活配置。具備高解析度（最佳可達0.07 nm）、低雜散光（約0.5%），可滿足工業現場長時間監測的可靠性需求。產品具有優異的光譜響應穩定性與重現性，適用於雷射測量、電漿發射光譜、顏色測量、吸光度分析、拉曼光譜測量等多種應用。
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產品特點
- 高解析度，最佳可達0.07nm
- TE-Cooled CCD，可選致冷溫度：10℃或-5℃，具低雜訊與高穩定性
- Key-SMA905設計，光纖插拔強度一致性≤7%
- 支援長時間穩定檢測，滿足科研與工業應用需求
- CCD量化背景雜訊≤10RMS (最短積分時間)
- 支援USB、RS232與24PIN交互介面、具專有DAC和ADC，實現光源啟用、強度控制與功率回饋
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規格參數
| 光學參數 | |
| 光纖介面 | Key-SMA905 |
| 像素1 | 2048 pixels |
| 雜散光 | ~0.5% |
| 光纖插拔一致性 | ≤7% |
| 功能參數 | |
| AD採樣 | 16bit |
| 數據介面 | USB2.0、RS232 |
| 擴充介面 | 24PIN |
| 採集模式 | 單次、連續、軟體觸發、同步外部觸發、非同步復位外部觸發 |
| 檢測器積分時間 | 8ms-300s（Max） |
| CCD讀出雜訊2 | ≤10 |
| 動態範圍3 | 8000:1 |
| 滿訊號動態範圍4 | 15000:1 |
| 訊噪比 | 800:1 |
| 回應線性度5 | ≥98% |
| 其他參數 | |
| 重量 | 1.12kg |
| 尺寸 | 182×109×56mm |
| 工作溫度 | 0℃~40℃ |
| 工作濕度 | 20%-85% |
| 1. 像素：CCD像素為2048×1 2. CCD讀出雜訊：最小積分時間下CCD讀出雜訊的均方根值 3. CCD動態範圍：最小積分時間下（飽和值 − 暗雜訊基線）/ CCD 讀出雜訊標準差，依據如海光電標準評估 4. 滿訊號動態範圍：按照CCD原廠或同行評價指標 5. 回應線性度：回應非線性度為校準之前 |
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產品配置
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產品規格
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致冷溫度
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光譜範圍
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光譜解析度 | |
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℃
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起始波長
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截止波長
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25um
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| TEC2000-535-630 | -5/10 | 535 | 630 | 0.30 |
| TEC2000-795-1040 | -5/10 | 795 | 1040 | 0.45 |
| TEC2000-200-1000 | -5/10 | 200 | 1000 | 2.50 |
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尺寸圖
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CCD 光譜回應效率圖
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典型光譜
10ms積分時間下的典型暗光譜
暗雜訊 VS 積分時間
10ms積分時間訊噪比(有源)
動態範圍
氣體標準光源光譜(200-1000nm)
氘鹵燈光譜(200-1000nm)
暗雜訊 VS 積分時間
10ms積分時間訊噪比(有源)
動態範圍
氣體標準光源光譜(200-1000nm)
氘鹵燈光譜(200-1000nm)