CNIR是一款高速近紅外光譜儀，專為精準檢測與高效率整合而設計之專業光譜檢測設備。核心覆蓋1525–1575nm近紅外波段，整合超高速擷取、高解析檢測與網路即時通訊等核心優勢，可無縫嵌入產線系統，實現膜厚、雷射波長等毫秒級變化之線上監測。
廣泛應用於膜厚量測、工業氣體監測、液體成分分析與生醫科研等多領域檢測需求，為工業智慧製造與科研創新提供快速、精準且可靠之光譜解決方案。
- 產品特點
- 精準波段覆蓋：專為1525–1575nm近紅外「黃金窗口」優化設計，精準匹配多種氫基團之特徵吸收峰。
- 高光學解析度：採用特殊光路設計，解析度高達0.3 nm，可清晰分辨薄膜干涉光譜之細微特徵，確保量測精準性。
- 3000 幀/秒高速擷取：基於高速電路設計，支援毫秒級瞬態過程捕捉。
- 多通訊介面：標配Gigabit RJ45網口與 24pin介面，支援百米傳輸零丟包，可進行二次開發，實現遠端監控與即時數據視覺化。
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應用領域
- 膜厚量測
- 光纖雷射與通訊元件測試
- 水分與有機溶劑快速分析
- 科學研究與特定物質鑑別
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規格參數
| 光學參數 | |
| 波段範圍 | 1525 - 1575 nm |
| 解析度 | ~ 0.35 nm |
| 光纖插拔一致性 | ≤7% |
| 功能參數 | |
| AD採樣 | 16 bit |
| 數據介面 | RJ45 Gigabit |
| 擴充介面 | 24PIN |
| 採集模式 | 單次、連續、軟體觸發、同步外觸發、非同步重定外觸發 |
| 檢測器積分時間 | 100 µs-30 s |
| CCD暗雜訊1 | ≤30 |
| 光譜動態範圍2 | 3500：1 |
| 訊噪比3 | 2000：1 |
| 回應線性度4 | ≥99 % |
| 其他參數 | |
| 尺寸 | 188×125×68 mm |
| 工作溫度 | 0℃~40℃ |
| 工作濕度 | 20%-85% |
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尺寸圖
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典型應用
膜厚測量
通過分析反射或透射光譜中的干涉峰，這項技術可精準計算薄膜厚度，適用於多種材料的薄膜厚度測量，包括半導體工藝中的光刻 膠膜、光學鍍膜以及電池隔膜等應用。
雷射線寬與中心波長線上監控
1525–1575nm波段可精準匹配此波段範圍內雷射器的性能監測需求。憑藉0.3nm的高解析度，能夠精準捕捉雷射中心波長的細微偏移，並實現雷射線寬的精確量測；3000 幀/秒的超高速資料擷取能力可即時追蹤雷射輸出的動態變化，及時發現波長漂移、線寬展寬等異常情況。此應用可廣泛適用於工業級雷射器與光纖雷射器的生產測試與線上運維監測場景。
化學基團檢測
1525–1575nm波段近紅外光譜儀主要對應C–H基團的二級倍頻與N–H基團（胺基）的二級倍頻吸收。憑藉快速、非破壞式與高訊噪比的優勢，可在多個領域實現精準應用。
- 農業與食品領域：可快速定量分析穀物、油脂與果蔬中的脂肪、碳水化合物與蛋白質含量，用於品質分級與產地溯源。
- 石油化工領域：可區分汽油與柴油中的飽和烴與不飽和烴比例，並監測原油中的烴類組成與含氮化合物，支援線上調和與品質控制。
- 生物醫藥領域：可對藥物片劑中的有效成分與蛋白質含量進行非破壞式檢測，同時也可用於人體組織中蛋白質等成分的無創分析。
- 高分子材料領域：可表徵聚合物中的甲基 / 亞甲基含量、結晶度以及胺類添加劑，協助材料研發與生產品質控制。
該波段已被應用於蛋白質 / 胺基酸含量快速測定（N–H）、聚醯胺與尼龍真偽鑑別（N–H）、含芳香環或烯烴材料的C–H微環境監測，以及藥物中水分與有機組分同步分析等場景。典型應用領域包括 食品、飼料、紡織、製藥以及高分子製程控制等產業。
