PL980近紅外二區螢光測量系統是一款可進行納米材料的螢光光譜分析研究和開發的一套光譜系統，該系統重現性好，測量速度快，具有良好的採集效率和可靠性，可廣泛應用於通訊、化工生物醫療、材料分析等領域。
-
產品特點
- 螢光光譜範圍：1000-1700nm
- 高穩定性
- 高靈敏度，相較於傳統90°螢光測量方式檢測靈敏度提高100倍
- 規格參數
| 型號 | LIFS976 |
| 探頭光纖配置 |
激發端：105 µm VIS-NIR 接收端：200 µm VIS-NIR |
| 光譜範圍 | 1000-1700nm |
| 波長解析度 | <4nm@25μm slit |
| 激發波長 | 976±1nm，線寬≤0.2nm |
| 雷射功率穩定性 | ≤3% P-P(@2hrs) |
| 雷射器壽命 | 10000hrs |
| 電源電壓 | 12V/2A100-240V AC@50/60Hz |
| 輸出功率 | 0-500mW 可調 |
| 濾光片雷射截止深度 | OD8 |
| 探頭工作距離 | 7.5mm |
| 工作溫度 | 0-40℃ |
| 工作濕度 | 5-80% |
註：以上規格為標準配置，可根據客戶具體需求，提供定製產品。
-
應用領域
- 螢光檢測
- 珠寶檢測
- 醫療分析
- 材料分析
- 光學實驗教學
- 特殊科研
-
典型光譜
樣品：PbS量子點；功率：500mw 積分時間：100ms
