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光纖光譜儀 泛用型光譜儀

致冷型物聯網光譜儀 Spark

致冷型物聯網光譜儀 Spark

DETAIL

Spark為致冷型網口光譜儀，體積小巧、光譜範圍可客製，具優異雜散光抑制能力。採RJ45網路傳輸，通訊距離可達約 100 公尺；雙絞線設計具抗干擾能力，可透過交換器實現多台集中管理與遠端控制。相容 Windows、Linux 系統，適用於瞬態光譜量測、LED / 雷射測試、顏色量測、工業與實驗室複雜電磁環境應用。


 

  • 產品特色

  • 雜散光＜0.1%，具備優異的雜散光抑制能力
  • 波長溫度漂移<0.1 pixel/℃（2048 pixels），確保變溫環境下長期穩定運作
  • 異步復位觸發延遲<40 ns，優化電子快門，適用於LIBS應用
  • 光纖接口插拔偏差≤7%，提升測試穩定性與重複性
  • 提供24PIN與Trigger I/O連接器，支援系統整合與外部控制
  • 支援RJ45 / RS485工業級通訊協議
  • 長積分動態範圍，可捕捉微弱訊號
  • 支援外部觸發模式
  • 高紫外響應，適用於UV光譜測量
  • 內建32G FLASH，可擴充Micro SD

 

  • 規格參數

型號 Spark
動態範圍 ≥6000:1
訊噪比 ≥600:1
像素數 2048 pixels
光纖介面 Key-SMA905
數據介面 RJ45 千兆網口
積分時間 65μs–300s
最短曝光時間 ≤1ms
採集頻率 常規500 fps
致冷溫度 ≤5℃
採集模式 單次、連續、軟體觸發、同步外部觸發、非同步復位外部觸發
工作溫度 10–45℃
工作濕度 35–55% RH
儲存溫度 溫度：10℃～45℃；
相對濕度：≤85%RH；
氣壓：70～105kPa
1. CCD 動態範圍：動態範圍為最小積分時間情況，（飽和值-暗噪基線）/CCD 讀出雜訊的標準差，評價方法參照如海標準；
2. 訊噪比的評價和計算參照如海標準評級方法
Note: 其他規格可客製

 
  • 產品配置
規格 光譜範圍/nm 光譜解析度/nm
起始波長 截止波長 10 µm 25 µm 50 µm 100 µm
Spark-200-340 200 340 0.15 0.20 0.30 0.50
Spark-200-400 200 400 0.20 0.25 0.35 0.60
Spark-200-430 200 430 0.20 0.30 0.40 0.65
Spark-200-520 200 520 0.30 0.35 0.50 0.85
Spark-200-630 200 630 0.40 0.55 0.80 1.20
Spark-200-870 200 870 0.50 0.70 1.10 1.70
Spark-200-1000 200 1000 0.60 0.95 1.30 2.00
Spark-300-430 300 430 0.20 0.25 0.35 0.55
Spark-300-1090 300 1090 0.65 1.00 1.40 2.10
Spark-400-500 400 500 0.25 0.30 0.40 0.55
Spark-400-570 400 570 0.25 0.35 0.45 0.70
Spark-400-600 400 600 0.30 0.35 0.55 0.75
Spark-400-1040 400 1040 0.55 0.75 1.20 1.80
Spark-500-650 500 650 0.30 0.40 0.50 0.70
Spark-500-680 500 680 0.30 0.40 0.60 0.80
Spark-500-770 500 770 0.35 0.50 0.65 1.00
Spark-600-730 600 730 0.35 0.40 0.50 0.75
Spark-600-760 600 760 0.35 0.40 0.60 0.80
Spark-600-850 600 850 0.40 0.50 0.75 1.00
Spark-600-980 600 980 0.50 0.65 0.90 1.30
Spark-700-840 700 840 0.35 0.45 0.60 0.80
Spark-700-940 700 940 0.45 0.50 0.75 1.00
Spark-700-1060 700 1060 0.50 0.65 1.00 1.30
Spark-800-910 800 910 0.40 0.50 0.60 0.80
Spark-800-1010 800 1010 0.50 0.55 0.80 1.10
註:仿真解析度誤差 ±0.15nm



  • 尺寸圖


 

  • 典型光譜

暗雜訊：積分時間1ms（扣除暗噪）
 

氘鎢燈圖譜


 

  • 應用案例

瞬態光譜
透過超高速資料擷取技術，即時量測燃燒過程中的瞬態發射與吸收光譜，可用於即時監測溫度、成分濃度、燃燒速率等關鍵參數。例如，Spark在紫外波段具備優異的響應能力，可應用於引擎燃燒溫度量測，藉由分析燃燒過程中的光譜變化判斷燃燒效率，進一步採取優化控制措施，以降低燃油消耗並減少廢氣排放。

                                                                     燃燒光譜

 
現場高溫測色
透過Spark在高溫環境下精準採集樣品之反射或發射光譜，可藉由量測光的光譜分布來分析與評估顏色特性。此技術廣泛應用於照明產業、紡織與服飾產業、化妝品產業、食品與農業領域，以及藝術與文化資產保存等領域。光譜儀於顏色量測中的關鍵優勢在於其高精度與高重現性，能夠提供完整且細緻的光譜資訊，確保色彩分析結果的可靠性與一致性。
                                                      螢光粉高溫下光致發光(PL)光譜

 
腔增強吸收光譜（CEAS）
腔增強吸收光譜（Cavity Enhanced Absorption Spectroscopy, CEAS）技術係利用高反射率光學腔，使入射光在腔體內多次反射，藉此延長光在腔內的有效光程，大幅提升微弱吸收訊號的偵測能力。透過Spark偵測透射光或反射光強度的變化，可反推樣品濃度或相關光學參數，進而實現於工業製程監控、環境污染物偵測等領域中，對痕量物質進行高靈敏度分析與檢測。
 
                                                        CEAS系統示意圖

 
拉曼光譜
Spark致冷型物聯網微型光譜儀憑藉其高解析度、低雜訊與高穩定度等核心優勢，搭配適用之雷射光源後，可建構具高度性價比的入門型拉曼光譜系統。此系統可滿足基礎拉曼光譜分析需求，適用於教學示範、一般物質定性分析，以及低成本科研探索等應用情境，提供穩定且可靠的量測表現。

                                                          酒精的拉曼光譜圖

 
螢光光譜
Spark致冷型物聯網微型光譜儀具備高紫外響應、低雜訊、高解析度以及多樣化且彈性的資料採集模式，可有效因應各類螢光檢測應用需求。適用範圍包括螢光材料特性分析、環境污染物之螢光偵測、生物樣本之螢光標記分析等科研與工業應用領域，提供穩定且高靈敏度之量測能力。

                                                     不同反應條件下，碳點的螢光光譜



 
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