ONIR是一款高速近紅外光譜儀，專為高精度光譜量測應用而設計。光譜範圍涵蓋約 1290–1330 nm，針對1310 nm近紅外波段最佳化，兼具高光學解析度、高速光譜擷取及即時網路通訊能力，可快速捕捉瞬態光譜變化，滿足各類精密光譜分析需求。
採用10 μm精密狹縫 與高效能光學設計，光學解析度約0.4 nm，可清楚辨識細微光譜特徵；搭配3000 幀/秒（fps） 的光譜擷取速度，可即時監測雷射波長漂移、光纖元件特性及高速製程中的光譜變化。
系統標配Gigabit RJ45網路介面與24-pin擴充介面，支援高速資料傳輸、遠端控制及二次開發，可整合至各類光譜量測平台，滿足研究開發、設備整合及線上量測等應用需求。
ONIR 適用於光纖通訊元件測試、雷射波長監測、薄膜量測、近紅外光譜分析及科學研究等應用，提供快速、穩定且精準的近紅外光譜量測解決方案。
- 產品特點
- 1310 nm波段最佳化：針對1310 nm近紅外波段設計，光譜量測範圍約1290–1330 nm，適用於O-Band光纖通訊及近紅外量測應用。
- 高光學解析度：採用10μm精密狹縫與特殊光學設計，解析度約 0.4 nm。
- 3000 幀/秒高速擷取：基於高速電路設計，支援毫秒級瞬態過程捕捉。
- 多通訊介面：標配Gigabit RJ45與24 pin擴充介面，支援高速資料傳輸、遠端控制及二次開發，實現遠端監控與即時數據視覺化。
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應用領域
- 光纖通訊元件測試
- 雷射波長監測
- 薄膜厚度量測
- 近紅外光譜分析
- 科學研究與光學實驗
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規格參數
| 光學參數 | |
| 波段範圍 | 約1290 - 1330 nm（1310 nm波段最佳化） |
| 解析度 | ~ 0.4 nm |
| 狹縫寬度 | 10 μm |
| 光纖插拔一致性 | ≤7% |
| 功能參數 | |
| AD採樣 | 16 bit |
| 數據介面 | Gigabit RJ45 |
| 擴充介面 | 24PIN |
| 採集模式 | 單次、連續、軟體觸發、同步外觸發、非同步重定外觸發 |
| 檢測器積分時間 | 100 µs-30 s |
| CCD暗雜訊1 | ≤30 |
| 光譜動態範圍2 | 3500：1 |
| 訊噪比3 | 2000：1 |
| 回應線性度4 | ≥99 % |
| 其他參數 | |
| 尺寸 | 188×125×68 mm |
| 工作溫度 | 0℃~40℃ |
| 工作濕度 | 20%-85% |
| 1. CCD 讀出雜訊：最小積分時間下之均方根值。 2. 光譜動態範圍：於最小積分時間下，（飽和值−暗雜訊基線）/ CCD 讀出雜訊標準差。 3. 訊噪比：依如海標準之實測值。 4. 回應線性度：校準前測得數值。 |
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尺寸圖
